La conferenza internazionale IEEE 2025 su metrologia per realtà estesa, intelligenza artificiale e ingegneria neurale - IEEE MetroXRAINE 2025 - sarà un evento internazionale mirato principalmente a creare una sinergia tra esperti in realtà estesa, interfaccia cervello-computer e intelligenza artificiale, con particolare attenzione alla misurazione.

La conferenza sarà un'opportunità unica di discussione tra scienziati, tecnologi e aziende su settori molto specifici al fine di aumentare la visibilità e l'impatto scientifico per i partecipanti. La formula organizzativa sarà originale grazie all'enfasi sull'interazione tra i partecipanti per scambiare idee e materiale utile per le loro attività di ricerca.

Seguendo l'idea principale delle precedenti edizioni, IEEE MetroXRAINE 2025 sarà configurata come una raccolta immersiva di sessioni organizzate dai singoli membri del comitato scientifico. Si terranno tavole rotonde per diversi progetti e argomenti di ricerca di attualità. Oltre ai normali documenti, sono previste numerose iniziative e opportunità, come sessioni di settore, mostre, tutorial, dimostrazioni, concorsi per studenti e altro ancora, per arricchire la vostra esperienza della conferenza e rendere MetroXRAINE 2025 un evento unico per incontrare persone coinvolte nella realtà estesa, nell'intelligenza artificiale e nell'ingegneria neurale.